专利名称：CT型X射线计算机断层成像安全检查设备专利类型：外观专利
申请号：CN2013308614.7申请日：20131226公开号：CN302848387S公开日：20140618
专利附图：
申请人：同方威视技术股份有限公司
地址：100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
国籍：CN
代理机构：中科专利商标代理有限责任公司
代理人：刘晓峰
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