(12)发明专利申请
(21)申请号 CN201880007230.7 (22)申请日 2018.01.18 (71)申请人 ASML荷兰有限公司
地址 荷兰维德霍温
(10)申请公布号 CN110709887A
(43)申请公布日 2020.01.17
(72)发明人 陈志超;方伟
(74)专利代理机构 北京市金杜律师事务所
代理人 王茂华
(51)Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
()发明名称
级联缺陷检查
(57)摘要
公开了一种缺陷检查系统。根据某些实施
例,该系统包括存储器,该存储器存储被实现为多个模块的指令。多个模块中的每个模块被配置为检测具有不同属性的缺陷。该系统还包括控制器,该控制器被配置为使计算机系统:接收表示晶片的图像的检查数据;将检查数据输入到多个模块中的第一模块,第一模块输出具有第一属性的第一组兴趣点(POI);将第一组POI输入到多个模块中的第二模块,第二模块输出具有第二属性
的第二组POI;以及报告第二组POI作为具有第一属性和第二属性两者的缺陷。
法律状态
法律状态公告日
2020-01-17 2020-01-17 2020-02-18
法律状态信息
公开 公开
实质审查的生效
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公开 公开
实质审查的生效
权利要求说明书
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